Verfügbarkeit: Eignungsnachweis von Mess- und Prüfprozessen

Eignungsnachweis von Mess- und Prüfprozessen: Fähigkeit, Eignung und Messunsicherheit im aktuellen Normenumfeld

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Vorheriger Titel:	Dietrich, Edgar Eignungsnachweiß von Prüfprozessen
Beteiligte Personen:	Dietrich, Edgar 1951- (VerfasserIn), Conrad, Stephan (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	Deutsch
Veröffentlicht:	München Hanser [2024]
Ausgabe:	6., überarbeitete Auflage
Schlagwörter:	Messgenauigkeit Prüfmittel Messsystem Bewertung Eignung Prüftechnik
Umfang:	XV, 399 Seiten Illustrationen, Diagramme 25 cm
ISBN:	9783446476981

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