Structural and electronic properties of antiphase boundaries in III-V semiconductor layers on Si(001) investigated by two-side cross-sectional scanning tunneling microscopy:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person: Farin, Pascal Robert Günter (VerfasserIn)
Format: Hochschulschrift/Dissertation Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Berlin 2021
Schlagwörter:
Links:https://doi.org/10.14279/depositonce-12458
Umfang:xii, 194 Seiten Illustrationen, Diagramme
DOI:10.14279/depositonce-12458