Atomic-force microscopy and its applications:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere beteiligte Personen: Tański, Tomasz (HerausgeberIn), Staszuk, Marcin (HerausgeberIn), Ziebowicz, Boguslaw (HerausgeberIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: London IntechOpen January 2019
Links:https://doi.org/10.5772/intechopen.74139
https://www.intechopen.com/books/atomic-force-microscopy-and-its-applications
https://www.doabooks.org/doab?func=fulltext&uiLanguage=en&rid=37735
Umfang:1 Online-Ressource Illustrationen, Diagramme
ISBN:9781789851700
DOI:10.5772/intechopen.74139