Materials and failures in MEMS and NEMS:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere beteiligte Personen: Tiwari, Atul (HerausgeberIn), Raj, Baldev 1947-2018 (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Hoboken, New Jersey John Wiley & Sons [2015]
Schlagwörter:
Umfang:xiv, 406 Seiten Illustrationen
ISBN:9781119083603