In-situ x-ray study of nano SiO_x with Germanium doping in Czochralski silicon:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person: Li, Zhen (VerfasserIn)
Format: Hochschulschrift/Dissertation Elektronisch E-Book
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Erlangen ; Nürnberg 2017
Schlagwörter:
Links:https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bvb:29-opus4-89657
http://d-nb.info/1144619238/34
https://open.fau.de/handle/openfau/8965
Umfang:1 Online-Ressource
Format:Langzeitarchivierung gewährleistet, LZA