Intelligent testing with the WISC-V:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteiligte Personen: Kaufman, Alan S. (VerfasserIn), Raiford, Susan Engi (VerfasserIn), Coalson, Diane L. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Hoboken Wiley 2016
Ausgabe:First edition
Umfang:xviii, 814 Seiten
ISBN:9781118589236