Wirkung hochenergetischer Strahlung auf Halbleiterbauelemente:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person: Bräunig, Dietrich (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:Deutsch
Veröffentlicht: Berlin, Heidelberg Springer Berlin Heidelberg 1989
Schriftenreihe:Mikroelektronik
Schlagwörter:
Links:https://doi.org/10.1007/978-3-642-51109-7
Beschreibung:Mit dem rasch wachsenden Integrationsgrad mikroelektronischer Schaltungen steigt der mögliche Schaden durch hochenergetische Strahlung, insbesondere im Einsatzbereich von Luft- und Raumfahrttechnik, aber auch bei Kernreaktoren, in der Materialforschung und in der medizinischen Diagnostik und Therapie. Das Buch liefert eine fundierte Einführung, die von den physikalischen Grundlagen der Wechselwirkung von Strahlung mit Materie, über die Erklärung von Schädigungsmechanismen bis hin zur Beschreibung von Strahlungsempfindlichkeit reicht. Der starke Einfluß der verwendeten Technologie wird ebenso behandelt wie die Möglichkeit der Abschirmung und der Einfluß von Strukturverkleinerungen auf die Strahlensensibiltät
Umfang:1 Online-Ressource (X, 196S. 164 Abb)
ISBN:9783642511097
9783540508915
ISSN:1431-6021
DOI:10.1007/978-3-642-51109-7