Analysis and design of resilient VLSI circuits: mitigating soft errors and process variations
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person: Garg, Rajesh (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: New York Springer c2010
Schlagwörter:
Links:http://lib.myilibrary.com?id=283681
Beschreibung:Includes bibliographical references (p. 283-298) and index
Umfang:1 Online-Ressource (xxii, 212 p.)
ISBN:1441909311
9781441909312
9781282836815