Semiconductor Applications in Metrology:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person: Göbel, Ernst O. 1946- (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Braunschweig/Wiesbaden Vieweg 1999
Links:http://mdz-nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bvb:12-bsb00058110-0
Beschreibung:In: Advances in solid state physics, 39, 1999. - Braunschweig/Wiesbaden : Vieweg
Umfang:1 Online-Ressource (S. [1] - 12) graph. Darst.