Reliability of Nanoscale Circuits and Systems: Methodologies and Circuit Architectures
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteiligte Personen: Stanisavljevic, Milos (VerfasserIn), Schmid, Alexandre (VerfasserIn), Leblebici, Yusuf 1962- (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: New York, NY Springer New York 2011
Ausgabe:1. Aufl.
Links:https://doi.org/10.1007/978-1-4419-6217-1
https://doi.org/10.1007/978-1-4419-6217-1
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https://doi.org/10.1007/978-1-4419-6217-1
Umfang:1 Online-Ressource (250 S.) 100 schw.-w. Ill.
ISBN:9781441962171
DOI:10.1007/978-1-4419-6217-1