Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse:
Gespeichert in:
| Beteiligte Personen: | , |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | Deutsch |
| Veröffentlicht: |
Opladen
Westdt. Verl.
1981
|
| Schriftenreihe: | Forschungsbericht des Landes Nordrhein-Westfalen
3049 |
| Schlagwörter: | |
| Umfang: | 23 S. graph. Darst. |
| ISBN: | 3531030493 |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV026939341 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20110228 | ||
| 007 | t| | ||
| 008 | 110326s1981 xx d||| |||| 00||| ger d | ||
| 020 | |a 3531030493 |9 3-531-03049-3 | ||
| 035 | |a (OCoLC)720900284 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV026939341 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakwb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-188 | ||
| 100 | 1 | |a Bünau, Günther von |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse |c Günther von Bünau ; Klaus-Dieter Klöppel |
| 264 | 1 | |a Opladen |b Westdt. Verl. |c 1981 | |
| 300 | |a 23 S. |b graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 490 | 1 | |a Forschungsbericht des Landes Nordrhein-Westfalen |v 3049 | |
| 650 | 0 | 7 | |a Sekundärionen-Massenspektrometrie |0 (DE-588)4077346-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Oberflächenanalyse |0 (DE-588)4172243-7 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 689 | 0 | 0 | |a Sekundärionen-Massenspektrometrie |0 (DE-588)4077346-2 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Oberflächenanalyse |0 (DE-588)4172243-7 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 700 | 1 | |a Klöppel, Klaus-Dieter |e Verfasser |4 aut | |
| 810 | 2 | |a Nordrhein-Westfalen |t Forschungsbericht des Landes Nordrhein-Westfalen |v 3049 |w (DE-604)BV001889757 |9 3049 | |
| 943 | 1 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-021600470 | |
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1818971653007212544 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Bünau, Günther von Klöppel, Klaus-Dieter |
| author_facet | Bünau, Günther von Klöppel, Klaus-Dieter |
| author_role | aut aut |
| author_sort | Bünau, Günther von |
| author_variant | g v b gv gvb k d k kdk |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV026939341 |
| ctrlnum | (OCoLC)720900284 (DE-599)BVBBV026939341 |
| format | Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01353nam a2200349 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV026939341</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20110228 </controlfield><controlfield tag="007">t|</controlfield><controlfield tag="008">110326s1981 xx d||| |||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3531030493</subfield><subfield code="9">3-531-03049-3</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)720900284</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV026939341</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-188</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Bünau, Günther von</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse</subfield><subfield code="c">Günther von Bünau ; Klaus-Dieter Klöppel</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Opladen</subfield><subfield code="b">Westdt. Verl.</subfield><subfield code="c">1981</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">23 S.</subfield><subfield code="b">graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Forschungsbericht des Landes Nordrhein-Westfalen</subfield><subfield code="v">3049</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Sekundärionen-Massenspektrometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077346-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Oberflächenanalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4172243-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Sekundärionen-Massenspektrometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077346-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Oberflächenanalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4172243-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Klöppel, Klaus-Dieter</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="810" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Nordrhein-Westfalen</subfield><subfield code="t">Forschungsbericht des Landes Nordrhein-Westfalen</subfield><subfield code="v">3049</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV001889757</subfield><subfield code="9">3049</subfield></datafield><datafield tag="943" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-021600470</subfield></datafield></record></collection> |
| id | DE-604.BV026939341 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-12-20T14:55:47Z |
| institution | BVB |
| isbn | 3531030493 |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-021600470 |
| oclc_num | 720900284 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-188 |
| owner_facet | DE-188 |
| physical | 23 S. graph. Darst. |
| publishDate | 1981 |
| publishDateSearch | 1981 |
| publishDateSort | 1981 |
| publisher | Westdt. Verl. |
| record_format | marc |
| series2 | Forschungsbericht des Landes Nordrhein-Westfalen |
| spelling | Bünau, Günther von Verfasser aut Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse Günther von Bünau ; Klaus-Dieter Klöppel Opladen Westdt. Verl. 1981 23 S. graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Forschungsbericht des Landes Nordrhein-Westfalen 3049 Sekundärionen-Massenspektrometrie (DE-588)4077346-2 gnd rswk-swf Oberflächenanalyse (DE-588)4172243-7 gnd rswk-swf Sekundärionen-Massenspektrometrie (DE-588)4077346-2 s Oberflächenanalyse (DE-588)4172243-7 s DE-604 Klöppel, Klaus-Dieter Verfasser aut Nordrhein-Westfalen Forschungsbericht des Landes Nordrhein-Westfalen 3049 (DE-604)BV001889757 3049 |
| spellingShingle | Bünau, Günther von Klöppel, Klaus-Dieter Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse Sekundärionen-Massenspektrometrie (DE-588)4077346-2 gnd Oberflächenanalyse (DE-588)4172243-7 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4077346-2 (DE-588)4172243-7 |
| title | Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse |
| title_auth | Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse |
| title_exact_search | Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse |
| title_full | Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse Günther von Bünau ; Klaus-Dieter Klöppel |
| title_fullStr | Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse Günther von Bünau ; Klaus-Dieter Klöppel |
| title_full_unstemmed | Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse Günther von Bünau ; Klaus-Dieter Klöppel |
| title_short | Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse |
| title_sort | anwendungen der hochauflosenden sekundarionenmassenspektrometrie sims in der oberflachenanalyse |
| topic | Sekundärionen-Massenspektrometrie (DE-588)4077346-2 gnd Oberflächenanalyse (DE-588)4172243-7 gnd |
| topic_facet | Sekundärionen-Massenspektrometrie Oberflächenanalyse |
| volume_link | (DE-604)BV001889757 |
| work_keys_str_mv | AT bunaugunthervon anwendungenderhochauflosendensekundarionenmassenspektrometriesimsinderoberflachenanalyse AT kloppelklausdieter anwendungenderhochauflosendensekundarionenmassenspektrometriesimsinderoberflachenanalyse |