Untersuchung des niederfrequenten Rauschverhaltens und der Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit von MOS-Strukturen unter der Wirkung ionisierender Bestrahlung:
Gespeichert in:
| Beteiligte Personen: | , |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | Deutsch |
| Veröffentlicht: |
Berlin-Wannsee
1968
|
| Schriftenreihe: | HMI-Berichte / Hahn-Meitner-Institut für Kernforschung Berlin GmbH
75 |
| Umfang: | 15 S., 3 Bl. |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV026707365 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20110228 | ||
| 007 | t| | ||
| 008 | 110326s1968 xx |||| 00||| ger d | ||
| 035 | |a (OCoLC)73650923 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV026707365 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakwb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-188 |a DE-210 | ||
| 100 | 1 | |a Bräunig, Dietrich |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Untersuchung des niederfrequenten Rauschverhaltens und der Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit von MOS-Strukturen unter der Wirkung ionisierender Bestrahlung |c D. Bräunig ; H. G. Wagemann |
| 264 | 1 | |a Berlin-Wannsee |c 1968 | |
| 300 | |a 15 S., 3 Bl. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 490 | 1 | |a HMI-Berichte / Hahn-Meitner-Institut für Kernforschung Berlin GmbH |v 75 | |
| 700 | 1 | |a Wagemann, Hans-Günther |d 1935-2014 |e Verfasser |0 (DE-588)115758798 |4 aut | |
| 810 | 2 | |a Hahn-Meitner-Institut für Kernforschung <Berlin, West> |t HMI-Berichte |v 75 |w (DE-604)BV005528122 |9 75 | |
| 943 | 1 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-022249692 | |
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1818972538513915904 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Bräunig, Dietrich Wagemann, Hans-Günther 1935-2014 |
| author_GND | (DE-588)115758798 |
| author_facet | Bräunig, Dietrich Wagemann, Hans-Günther 1935-2014 |
| author_role | aut aut |
| author_sort | Bräunig, Dietrich |
| author_variant | d b db h g w hgw |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV026707365 |
| ctrlnum | (OCoLC)73650923 (DE-599)BVBBV026707365 |
| format | Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01083nam a2200277 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV026707365</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20110228 </controlfield><controlfield tag="007">t|</controlfield><controlfield tag="008">110326s1968 xx |||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)73650923</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV026707365</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-188</subfield><subfield code="a">DE-210</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Bräunig, Dietrich</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Untersuchung des niederfrequenten Rauschverhaltens und der Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit von MOS-Strukturen unter der Wirkung ionisierender Bestrahlung</subfield><subfield code="c">D. Bräunig ; H. G. Wagemann</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Berlin-Wannsee</subfield><subfield code="c">1968</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">15 S., 3 Bl.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">HMI-Berichte / Hahn-Meitner-Institut für Kernforschung Berlin GmbH</subfield><subfield code="v">75</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Wagemann, Hans-Günther</subfield><subfield code="d">1935-2014</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="0">(DE-588)115758798</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="810" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Hahn-Meitner-Institut für Kernforschung <Berlin, West></subfield><subfield code="t">HMI-Berichte</subfield><subfield code="v">75</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV005528122</subfield><subfield code="9">75</subfield></datafield><datafield tag="943" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-022249692</subfield></datafield></record></collection> |
| id | DE-604.BV026707365 |
| illustrated | Not Illustrated |
| indexdate | 2024-12-20T15:09:52Z |
| institution | BVB |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-022249692 |
| oclc_num | 73650923 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-188 DE-210 |
| owner_facet | DE-188 DE-210 |
| physical | 15 S., 3 Bl. |
| publishDate | 1968 |
| publishDateSearch | 1968 |
| publishDateSort | 1968 |
| record_format | marc |
| series2 | HMI-Berichte / Hahn-Meitner-Institut für Kernforschung Berlin GmbH |
| spelling | Bräunig, Dietrich Verfasser aut Untersuchung des niederfrequenten Rauschverhaltens und der Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit von MOS-Strukturen unter der Wirkung ionisierender Bestrahlung D. Bräunig ; H. G. Wagemann Berlin-Wannsee 1968 15 S., 3 Bl. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier HMI-Berichte / Hahn-Meitner-Institut für Kernforschung Berlin GmbH 75 Wagemann, Hans-Günther 1935-2014 Verfasser (DE-588)115758798 aut Hahn-Meitner-Institut für Kernforschung <Berlin, West> HMI-Berichte 75 (DE-604)BV005528122 75 |
| spellingShingle | Bräunig, Dietrich Wagemann, Hans-Günther 1935-2014 Untersuchung des niederfrequenten Rauschverhaltens und der Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit von MOS-Strukturen unter der Wirkung ionisierender Bestrahlung |
| title | Untersuchung des niederfrequenten Rauschverhaltens und der Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit von MOS-Strukturen unter der Wirkung ionisierender Bestrahlung |
| title_auth | Untersuchung des niederfrequenten Rauschverhaltens und der Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit von MOS-Strukturen unter der Wirkung ionisierender Bestrahlung |
| title_exact_search | Untersuchung des niederfrequenten Rauschverhaltens und der Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit von MOS-Strukturen unter der Wirkung ionisierender Bestrahlung |
| title_full | Untersuchung des niederfrequenten Rauschverhaltens und der Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit von MOS-Strukturen unter der Wirkung ionisierender Bestrahlung D. Bräunig ; H. G. Wagemann |
| title_fullStr | Untersuchung des niederfrequenten Rauschverhaltens und der Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit von MOS-Strukturen unter der Wirkung ionisierender Bestrahlung D. Bräunig ; H. G. Wagemann |
| title_full_unstemmed | Untersuchung des niederfrequenten Rauschverhaltens und der Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit von MOS-Strukturen unter der Wirkung ionisierender Bestrahlung D. Bräunig ; H. G. Wagemann |
| title_short | Untersuchung des niederfrequenten Rauschverhaltens und der Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit von MOS-Strukturen unter der Wirkung ionisierender Bestrahlung |
| title_sort | untersuchung des niederfrequenten rauschverhaltens und der oberflachenrekombinationsgeschwindigkeit von mos strukturen unter der wirkung ionisierender bestrahlung |
| volume_link | (DE-604)BV005528122 |
| work_keys_str_mv | AT braunigdietrich untersuchungdesniederfrequentenrauschverhaltensundderoberflachenrekombinationsgeschwindigkeitvonmosstrukturenunterderwirkungionisierenderbestrahlung AT wagemannhansgunther untersuchungdesniederfrequentenrauschverhaltensundderoberflachenrekombinationsgeschwindigkeitvonmosstrukturenunterderwirkungionisierenderbestrahlung |