Einfache ökonometrische Verfahren für die Kreditrisikomessung: Verweildauermodelle:
Gespeichert in:
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| Format: | Buch |
| Sprache: | Deutsch |
| Veröffentlicht: |
Frankfurt am Main
Univ., Fachbereich Wirtschaftswiss.
2000
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| Schriftenreihe: | Universität <Frankfurt, Main> Fachbereich Wirtschaftswissenschaften
62 |
| Beschreibung: | Literaturangaben |
| Umfang: | 27 S. graph. Darst. |
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