Mixed level test generation for synchronous sequential circuits using the FOGBUSTER algorithm:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person: Gläser, Uwe (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Nichtbestimmte Sprache
Veröffentlicht: Sankt Augustin GMD 1994
Schriftenreihe:Arbeitspapiere der GMD 869
Umfang:22 S. graph. Darst.
ISSN:0723-0508