Thin films: stresses and mechanical properties ; symposium held November 28-30, 1988, Boston, Massachusetts, U.S.A.
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere beteiligte Personen: Bravman, John C. (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Pittsburgh [u.a.] Materials Research Soc. 1989
Schriftenreihe:Materials Research Society symposium proceedings 130
Umfang:XIII, 402 S.
ISBN:1558990038