Ellipsometrische Untersuchungen der optischen Konstanten und elektronischen Interbandübergänge in Halbleitern: Temperatur-, Legierungs- und Dotierungseffekte:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person: Viña Liste, Luis María (VerfasserIn)
Format: Hochschulschrift/Dissertation Buch
Sprache:Nichtbestimmte Sprache
Veröffentlicht: 1984
Schlagwörter:
Umfang:321 S. graph. Darst.