Analyse der Defektursachen und der Genauigkeit der Strukturübertragung bei der Röntgentiefenlithographie mit Synchrotronstrahlung:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteiligte Personen: Mohr, Jürgen (VerfasserIn), Ehrfeld, Wolfgang 1938- (VerfasserIn), Münchmeyer, Dietrich (VerfasserIn)
Format: Hochschulschrift/Dissertation Buch
Sprache:Deutsch
Veröffentlicht: Karlsruhe Kernforschungszentrum 1988
Ausgabe:Als Ms. vervielfältigt
Schlagwörter:
Umfang:96 S. Ill., graph. Darst.