Characterization of very high speed semiconductor devices and integrated circuits: 23 - 25 March 1987, Bay Point, Fla.
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere beteiligte Personen: Jain, Ravinder K. 1935- (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. 1987
Schriftenreihe:Proceedings / SPIE 795
Critical reviews of optical science and technology
Schlagwörter:
Umfang:X, 359 S.