Die Risstiefenmessung nach dem Potential-Sonden-Verfahren:
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Bibliographic Details
Main Authors: Deutsch, Volker (Author), Platte, Michael (Author)
Format: Book
Language:German
Published: Wuppertal Castell-Verl. [u.a.] 2000
Series:ZfP - kompakt und verständlich 4
Subjects:
Physical Description:33 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3934255043