Low temperature grown InP-based HFET: characterization and modelling
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person: Msee, Li-heng Lee (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: 2001
Schlagwörter:
Beschreibung:Ulm, Univ., Diss., 2001
Umfang:VI, 130 S. Ill., graph. Darst.