Verfügbarkeit: Effiziente Verfahren zu Analyse und Test von Laufzeiteigenschaften integrierter Schaltungen

Effiziente Verfahren zu Analyse und Test von Laufzeiteigenschaften integrierter Schaltungen:

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person:	Ganz, Andreas (VerfasserIn)
Format:	Hochschulschrift/Dissertation Buch
Sprache:	Deutsch
Veröffentlicht:	München Hieronymus 2001
Ausgabe:	Als Typoskript gedr.
Schriftenreihe:	Elektrotechnik
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