Verfügbarkeit: Verfahren der sequentiellen Merkmalsanalyse für die Mustererkennung

Verfahren der sequentiellen Merkmalsanalyse für die Mustererkennung:

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person:	Walter, Peter (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	Deutsch
Veröffentlicht:	Aachen Shaker 2000
Schriftenreihe:	Berichte aus der Elektrotechnik
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Beschreibung:	Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1999
Umfang:	XII, 130 S. Ill., graph. Darst. : 21 cm
ISBN:	3826575385

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