Optoelektronisches Verhalten von Dünnschichtbauelementen aus amorphem und mikrokristallinem Silizium:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person: Zimmer, Jürgen (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Deutsch
Veröffentlicht: 1999
Schlagwörter:
Beschreibung:München, Techn. Univ., Diss., 1999
Umfang:V, 171 S. Ill., graph. Darst.
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Signatur: 0001 DM 19754 Lageplan
Exemplar 1 Ausleihbar Am Standort