Verfügbarkeit: Charakterisierung von MOVPE-II-VI-Halbleiter-Schichten mittels Röntgendiffraktometrie

Charakterisierung von MOVPE-II-VI-Halbleiter-Schichten mittels Röntgendiffraktometrie:

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person:	Xu, Jun (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	Deutsch
Veröffentlicht:	Aachen Mainz 1999
Ausgabe:	1. Aufl.
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