Automatische Defektinspektion am Beispiel von Stapelfehlern, D-Defekten und Bulk-Micro-Defekten bei Siliciumscheiben: Diplomarbeit FB06 Physikalische Technik
Gespeichert in:
| Beteilige Person: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | Nichtbestimmte Sprache |
| Veröffentlicht: |
München
Fachhochschule
1997
|
| Beschreibung: | Keine Fernleihe möglich |
| Umfang: | VI, 60 Bl. zahlr. graph. Darst. |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV012273755 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 00000000000000.0 | ||
| 007 | t| | ||
| 008 | 981119s1997 xx d||| |||| 00||| und d | ||
| 035 | |a (OCoLC)633587096 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV012273755 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | |a und | ||
| 049 | |a DE-M347 | ||
| 100 | 1 | |a Lang, Jürgen |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Automatische Defektinspektion am Beispiel von Stapelfehlern, D-Defekten und Bulk-Micro-Defekten bei Siliciumscheiben |b Diplomarbeit FB06 Physikalische Technik |c Jürgen Lang |
| 264 | 1 | |a München |b Fachhochschule |c 1997 | |
| 300 | |a VI, 60 Bl. |b zahlr. graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 500 | |a Keine Fernleihe möglich | ||
| 943 | 1 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-008319121 | |
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1818954769094410240 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Lang, Jürgen |
| author_facet | Lang, Jürgen |
| author_role | aut |
| author_sort | Lang, Jürgen |
| author_variant | j l jl |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV012273755 |
| ctrlnum | (OCoLC)633587096 (DE-599)BVBBV012273755 |
| format | Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>00833nam a2200253 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV012273755</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">t|</controlfield><controlfield tag="008">981119s1997 xx d||| |||| 00||| und d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)633587096</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV012273755</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">und</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-M347</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Lang, Jürgen</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Automatische Defektinspektion am Beispiel von Stapelfehlern, D-Defekten und Bulk-Micro-Defekten bei Siliciumscheiben</subfield><subfield code="b">Diplomarbeit FB06 Physikalische Technik</subfield><subfield code="c">Jürgen Lang</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">München</subfield><subfield code="b">Fachhochschule</subfield><subfield code="c">1997</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">VI, 60 Bl.</subfield><subfield code="b">zahlr. graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Keine Fernleihe möglich</subfield></datafield><datafield tag="943" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-008319121</subfield></datafield></record></collection> |
| id | DE-604.BV012273755 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-12-20T10:27:25Z |
| institution | BVB |
| language | Undetermined |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-008319121 |
| oclc_num | 633587096 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-M347 |
| owner_facet | DE-M347 |
| physical | VI, 60 Bl. zahlr. graph. Darst. |
| publishDate | 1997 |
| publishDateSearch | 1997 |
| publishDateSort | 1997 |
| publisher | Fachhochschule |
| record_format | marc |
| spelling | Lang, Jürgen Verfasser aut Automatische Defektinspektion am Beispiel von Stapelfehlern, D-Defekten und Bulk-Micro-Defekten bei Siliciumscheiben Diplomarbeit FB06 Physikalische Technik Jürgen Lang München Fachhochschule 1997 VI, 60 Bl. zahlr. graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Keine Fernleihe möglich |
| spellingShingle | Lang, Jürgen Automatische Defektinspektion am Beispiel von Stapelfehlern, D-Defekten und Bulk-Micro-Defekten bei Siliciumscheiben Diplomarbeit FB06 Physikalische Technik |
| title | Automatische Defektinspektion am Beispiel von Stapelfehlern, D-Defekten und Bulk-Micro-Defekten bei Siliciumscheiben Diplomarbeit FB06 Physikalische Technik |
| title_auth | Automatische Defektinspektion am Beispiel von Stapelfehlern, D-Defekten und Bulk-Micro-Defekten bei Siliciumscheiben Diplomarbeit FB06 Physikalische Technik |
| title_exact_search | Automatische Defektinspektion am Beispiel von Stapelfehlern, D-Defekten und Bulk-Micro-Defekten bei Siliciumscheiben Diplomarbeit FB06 Physikalische Technik |
| title_full | Automatische Defektinspektion am Beispiel von Stapelfehlern, D-Defekten und Bulk-Micro-Defekten bei Siliciumscheiben Diplomarbeit FB06 Physikalische Technik Jürgen Lang |
| title_fullStr | Automatische Defektinspektion am Beispiel von Stapelfehlern, D-Defekten und Bulk-Micro-Defekten bei Siliciumscheiben Diplomarbeit FB06 Physikalische Technik Jürgen Lang |
| title_full_unstemmed | Automatische Defektinspektion am Beispiel von Stapelfehlern, D-Defekten und Bulk-Micro-Defekten bei Siliciumscheiben Diplomarbeit FB06 Physikalische Technik Jürgen Lang |
| title_short | Automatische Defektinspektion am Beispiel von Stapelfehlern, D-Defekten und Bulk-Micro-Defekten bei Siliciumscheiben |
| title_sort | automatische defektinspektion am beispiel von stapelfehlern d defekten und bulk micro defekten bei siliciumscheiben diplomarbeit fb06 physikalische technik |
| title_sub | Diplomarbeit FB06 Physikalische Technik |
| work_keys_str_mv | AT langjurgen automatischedefektinspektionambeispielvonstapelfehlernddefektenundbulkmicrodefektenbeisiliciumscheibendiplomarbeitfb06physikalischetechnik |