Testbarkeitsanalyse analoger Schaltungen und Systeme: ein Beitrag zur Meß- und Prüftechnik elektronischer Systeme
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person: Liu, Ji-Gou (VerfasserIn)
Format: Hochschulschrift/Dissertation Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Düsseldorf VDI Verl. 1997
Ausgabe:Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 8] 676
Schlagwörter:
Links:http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=007868755&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA
Umfang:X, 111 S. graph. Darst.
ISBN:3183676087
Inhaltsverzeichnis
Paper/Kapitel scannen lassen

Bibliotheksmagazin

Bestandsangaben von Bibliotheksmagazin
Signatur: 0024 65 B 276-8,676
Lageplan
Exemplar 1 Ausleihbar Am Standort