Verfügbarkeit: Charakterisierung chemisch modifizierter InP-Oberflächen

Charakterisierung chemisch modifizierter InP-Oberflächen: Untersuchungen mit XPS/XAES, SXPS und XPD

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Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person:	Peisert, Heiko 1965- (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	Deutsch
Veröffentlicht:	1997
Schlagwörter:	Modifizierung Sulfidierung Kristallfläche Röntgen-Photoelektronenspektroskopie Indiumphosphid Röntgenstrahleninduzierte Auger-Spektroskopie Hochschulschrift
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Beschreibung:	Leipzig, Univ., Diss., 1997
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