Stabstirn-Trennschleifen von einkristallinem Silizium:
Gespeichert in:
Beteilige Person: | |
---|---|
Format: | Buch |
Sprache: | Deutsch |
Veröffentlicht: |
Düsseldorf
VDI-Verl.
1997
|
Ausgabe: | Als Ms. gedr. |
Schriftenreihe: | Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschrittberichte VDI / 2]
422 IFW-Produktionstechnik |
Schlagwörter: | |
Links: | http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=007671778&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA |
Beschreibung: | Zugl.: Hannover, Univ., Diss., 1997 |
Umfang: | XIII, 144 S. Ill., graph. Darst. |
ISBN: | 3183422026 |
Internformat
MARC
LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
---|---|---|---|
001 | BV011412949 | ||
003 | DE-604 | ||
005 | 19970929 | ||
007 | t| | ||
008 | 970702s1997 xx ad|| m||| 00||| ger d | ||
016 | 7 | |a 950599557 |2 DE-101 | |
020 | |a 3183422026 |9 3-18-342202-6 | ||
035 | |a (OCoLC)75746340 | ||
035 | |a (DE-599)BVBBV011412949 | ||
040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
041 | 0 | |a ger | |
049 | |a DE-91G |a DE-703 |a DE-210 |a DE-83 | ||
084 | |a UP 3100 |0 (DE-625)146372: |2 rvk | ||
084 | |a FER 743d |2 stub | ||
084 | |a ELT 072d |2 stub | ||
100 | 1 | |a Hartmann, Matthias |e Verfasser |4 aut | |
245 | 1 | 0 | |a Stabstirn-Trennschleifen von einkristallinem Silizium |c Matthias Hartmann |
250 | |a Als Ms. gedr. | ||
264 | 1 | |a Düsseldorf |b VDI-Verl. |c 1997 | |
300 | |a XIII, 144 S. |b Ill., graph. Darst. | ||
336 | |b txt |2 rdacontent | ||
337 | |b n |2 rdamedia | ||
338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
490 | 1 | |a Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschrittberichte VDI / 2] |v 422 | |
490 | 0 | |a IFW-Produktionstechnik | |
500 | |a Zugl.: Hannover, Univ., Diss., 1997 | ||
650 | 0 | 7 | |a Prozessüberwachung |0 (DE-588)4133922-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Wafer |0 (DE-588)4294605-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Trennschleifen |0 (DE-588)4267501-7 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Einkristall |0 (DE-588)4013901-3 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Silicium |0 (DE-588)4077445-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
689 | 0 | 0 | |a Silicium |0 (DE-588)4077445-4 |D s |
689 | 0 | 1 | |a Einkristall |0 (DE-588)4013901-3 |D s |
689 | 0 | 2 | |a Wafer |0 (DE-588)4294605-0 |D s |
689 | 0 | 3 | |a Trennschleifen |0 (DE-588)4267501-7 |D s |
689 | 0 | 4 | |a Prozessüberwachung |0 (DE-588)4133922-8 |D s |
689 | 0 | |5 DE-604 | |
810 | 2 | |a 2] |t Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschrittberichte VDI |v 422 |w (DE-604)BV000897203 |9 422 | |
856 | 4 | 2 | |m HBZ Datenaustausch |q application/pdf |u http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=007671778&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA |3 Inhaltsverzeichnis |
943 | 1 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-007671778 |
Datensatz im Suchindex
DE-BY-TUM_call_number | 0701 65 B 276-2,422 0746 DHA.240 |
---|---|
DE-BY-TUM_katkey | 837979 |
DE-BY-TUM_location | Mag LSB |
DE-BY-TUM_media_number | 040070144553 TEMP3000364 |
_version_ | 1821931138622423040 |
adam_text | Titel: Stabstirn-Trennschleifen von einkristallinem Silizium
Autor: Hartmann, Matthias
Jahr: 1997
BERICHTE AUS DEM INSTITUT FÜR FERTIGUNGSTECHNIK UND SPANENDE WERKZEUGMASCHINEN UNIVERSITÄT HANNOVER PRODUKT ION ST ECHNIK XvX*£ •x-x-x xx-x i v/Xwi xvx/.;x- Dipl.-Ing. Matthias Hartmann, Bremen Stabstirn-Trennschleifen von einkristallinem Silizium Fortschritt-Berichte VDI Reihe 2 : Fertigungstechnik Nr. 422
V Inhalt Seite Verzeichnis der Formel- und Kurzzeichen................................................................VII Indizes, Symbole.......................................................................................................XI Abkürzungen.............................................................................................................XI Abstrakt...................................................................................................................XIII 1 EINLEITUNG...............................................................................................................1 2 STAND DER KENNTNISSE........................................................................................5 2.1 Verfahren zum Trennschleifen und Trennläppen von Halbleiterwerkstoffen.... 11 2.2 Innendurchmesser-Trennschleifen und Längs-Seiten-Planschleifen................13 2.3 Prozeßüberwachung, -diagnose und -regelung beim Trennschleifen von Halbleitenwerkstoffen........................................................................................19 3 AUFGABENSTELLUNG, ZIELSETZUNG UND VORGEHENSWEISE.....................24 4 VERSUCHSEINRICHTUNGEN.................................................................................26 4.1 Versuchsmaschine...........................................................................................26 4.2 Werkzeuge und Werkstücke.............................................................................28 4.3 Konditionieren der Werkzeuge.........................................................................29 4.4 Kühlschmierstoff...............................................................................................31 4.5 Messung der Maschinensteil- und Prozeßgrößen............................................32 4.5.1 Piezoelektrische Zerspankraftmessung.............................................34 4.5.2 Messung der
Trennblattauslenkung...................................................35 4.5.3 Messung der Schallemission.............................................................36 4.6 Messung von Form- und Maßgenauigkeit und Rauheit....................................38 4.7 Bestimmung der Randzoneneigenschaften des Werkstücks............................41
VI 5 KINEMATIK, KENNGRÖßEN UND PROZEßPHASEN.............................................44 6 WERKZEUGABDRÄNGUNG BEIM STABSTIRN-TRENNSCHLEIFEN...................49 6.1 Werkzeugabdrängung beim Längs-Seiten-Planschlelfen.................................49 6.1.1 Statisches Systemverhalten...............................................................50 6.1.2 Modellbetrachtung..............................................................................53 6.1.3 Verfahren zur Messung der Orientierung der Maschinenachsen.......58 6.1.4 Vergleichsbetrachtung.......................................................................64 6.2 Auslenkung des Innendurchmesser-Trennblattes............................................69 6.2.1 Messung der Trennblattverlagerung mit dem rotierenden Axialsensor.........................................................................................71 6.2.2 Prozeßverhalten des Innendurchmesser-Trennblattes......................78 7 SCHALLEMISSION BEIM STABSTIRN-TRENNSCHLEIFEN..................................83 7.1 Überwachung des Prozeßverlaufs mittels Schallemissionsanalyse..................87 7.2 Überwachung des Trennblattrundlaufs mittels Schallemission.........................94 8 ARBEITSERGEBNIS BEIM STABSTIRN- UND INNENDURCHMESSERTRENNSCHLEIFEN................................................................................................107 8.1 Prozeßverhalten und Wafergeometrie............................................................107 8.2 Randzoneneigenschaften getrennter und geschliffener Waferoberflächen....114 8.2.1 Oberflächengüte der Wafer..............................................................114 8.2.2 Ergebnisse der Störtiefenmessungen..............................................116 8.2.3 Ergebnisse der röntgenographischen Analyse geschliffener Waferoberflächen................ 118 9 FOLGERUNGEN UND HINWEISE FÜR DIE
PRAXIS............................................123 10 ZUSAMMENFASSUNG..........................................................................................128 11 LITERATURVERZEICHNIS....................................................................................130
|
any_adam_object | 1 |
author | Hartmann, Matthias |
author_facet | Hartmann, Matthias |
author_role | aut |
author_sort | Hartmann, Matthias |
author_variant | m h mh |
building | Verbundindex |
bvnumber | BV011412949 |
classification_rvk | UP 3100 |
classification_tum | FER 743d ELT 072d |
ctrlnum | (OCoLC)75746340 (DE-599)BVBBV011412949 |
discipline | Physik Werkstoffwissenschaften / Fertigungstechnik Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik |
edition | Als Ms. gedr. |
format | Book |
fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>02105nam a2200517 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV011412949</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">19970929 </controlfield><controlfield tag="007">t|</controlfield><controlfield tag="008">970702s1997 xx ad|| m||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="016" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">950599557</subfield><subfield code="2">DE-101</subfield></datafield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3183422026</subfield><subfield code="9">3-18-342202-6</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)75746340</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV011412949</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91G</subfield><subfield code="a">DE-703</subfield><subfield code="a">DE-210</subfield><subfield code="a">DE-83</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">UP 3100</subfield><subfield code="0">(DE-625)146372:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">FER 743d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ELT 072d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Hartmann, Matthias</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Stabstirn-Trennschleifen von einkristallinem Silizium</subfield><subfield code="c">Matthias Hartmann</subfield></datafield><datafield tag="250" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Als Ms. gedr.</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Düsseldorf</subfield><subfield code="b">VDI-Verl.</subfield><subfield code="c">1997</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">XIII, 144 S.</subfield><subfield code="b">Ill., graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschrittberichte VDI / 2]</subfield><subfield code="v">422</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">IFW-Produktionstechnik</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Zugl.: Hannover, Univ., Diss., 1997</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Prozessüberwachung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4133922-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Wafer</subfield><subfield code="0">(DE-588)4294605-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Trennschleifen</subfield><subfield code="0">(DE-588)4267501-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Einkristall</subfield><subfield code="0">(DE-588)4013901-3</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Silicium</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077445-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Silicium</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077445-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Einkristall</subfield><subfield code="0">(DE-588)4013901-3</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Wafer</subfield><subfield code="0">(DE-588)4294605-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">Trennschleifen</subfield><subfield code="0">(DE-588)4267501-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="4"><subfield code="a">Prozessüberwachung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4133922-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="810" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">2]</subfield><subfield code="t">Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschrittberichte VDI</subfield><subfield code="v">422</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV000897203</subfield><subfield code="9">422</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="2"><subfield code="m">HBZ Datenaustausch</subfield><subfield code="q">application/pdf</subfield><subfield code="u">http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=007671778&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA</subfield><subfield code="3">Inhaltsverzeichnis</subfield></datafield><datafield tag="943" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-007671778</subfield></datafield></record></collection> |
genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
genre_facet | Hochschulschrift |
id | DE-604.BV011412949 |
illustrated | Illustrated |
indexdate | 2024-12-20T10:11:58Z |
institution | BVB |
isbn | 3183422026 |
language | German |
oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-007671778 |
oclc_num | 75746340 |
open_access_boolean | |
owner | DE-91G DE-BY-TUM DE-703 DE-210 DE-83 |
owner_facet | DE-91G DE-BY-TUM DE-703 DE-210 DE-83 |
physical | XIII, 144 S. Ill., graph. Darst. |
publishDate | 1997 |
publishDateSearch | 1997 |
publishDateSort | 1997 |
publisher | VDI-Verl. |
record_format | marc |
series2 | Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschrittberichte VDI / 2] IFW-Produktionstechnik |
spellingShingle | Hartmann, Matthias Stabstirn-Trennschleifen von einkristallinem Silizium Prozessüberwachung (DE-588)4133922-8 gnd Wafer (DE-588)4294605-0 gnd Trennschleifen (DE-588)4267501-7 gnd Einkristall (DE-588)4013901-3 gnd Silicium (DE-588)4077445-4 gnd |
subject_GND | (DE-588)4133922-8 (DE-588)4294605-0 (DE-588)4267501-7 (DE-588)4013901-3 (DE-588)4077445-4 (DE-588)4113937-9 |
title | Stabstirn-Trennschleifen von einkristallinem Silizium |
title_auth | Stabstirn-Trennschleifen von einkristallinem Silizium |
title_exact_search | Stabstirn-Trennschleifen von einkristallinem Silizium |
title_full | Stabstirn-Trennschleifen von einkristallinem Silizium Matthias Hartmann |
title_fullStr | Stabstirn-Trennschleifen von einkristallinem Silizium Matthias Hartmann |
title_full_unstemmed | Stabstirn-Trennschleifen von einkristallinem Silizium Matthias Hartmann |
title_short | Stabstirn-Trennschleifen von einkristallinem Silizium |
title_sort | stabstirn trennschleifen von einkristallinem silizium |
topic | Prozessüberwachung (DE-588)4133922-8 gnd Wafer (DE-588)4294605-0 gnd Trennschleifen (DE-588)4267501-7 gnd Einkristall (DE-588)4013901-3 gnd Silicium (DE-588)4077445-4 gnd |
topic_facet | Prozessüberwachung Wafer Trennschleifen Einkristall Silicium Hochschulschrift |
url | http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=007671778&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA |
volume_link | (DE-604)BV000897203 |
work_keys_str_mv | AT hartmannmatthias stabstirntrennschleifenvoneinkristallinemsilizium |
Inhaltsverzeichnis
Paper/Kapitel scannen lassen
Paper/Kapitel scannen lassen
Bibliotheksmagazin
Signatur: |
0701 65 B 276-2,422 Lageplan |
---|---|
Exemplar 1 | Ausleihbar Am Standort |
Handapparate (nicht verfügbar)
Signatur: |
0746 DHA.240 Lageplan |
---|---|
Exemplar 1 | Dauerhaft ausgeliehen Ausgeliehen |