X-ray diffraction topography:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person: Tanner, Brian K. 1947- (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Oxford [u.a.] Pergamon Press 1976
Schriftenreihe:International series in the science of the solid state 10
Schlagwörter:
Umfang:XIII, 174 S. Ill., graph. Darst.