Technikfolgen für Familien: Längsschnittanalyse und zukünftige Entwicklung
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteiligte Personen: Meyer, Sibylle 1955- (VerfasserIn), Schulze, Eva (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Nichtbestimmte Sprache
Veröffentlicht: Düsseldorf VDI-Technologiezentrum Physikalische Technologien 1993
Schriftenreihe:Technikfolgenabschätzung 5
Schlagwörter:
Umfang:XV, 100, 6 S. graph. Darst.