Verfügbarkeit: Untersuchung von Grenzflächen zwischen III - V- und II - VI-Halbleitern mittels Photoemission

Untersuchung von Grenzflächen zwischen III - V- und II - VI-Halbleitern mittels Photoemission:

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Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person:	Wilke, Werner W. (VerfasserIn)
Format:	Hochschulschrift/Dissertation Microform Buch
Sprache:	Deutsch
Veröffentlicht:	1989
Schlagwörter:	Drei-Fünf-Halbleiter Halbleiter Zwei-Sechs-Halbleiter Heteroübergang Grenzfläche Fotoemission Hochschulschrift
Beschreibung:	Mikroreprod. e. Ms. 172 Bl. : Ill., graph. Darst.
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