Zug-, Kriech- und Relaxationsverhalten von Kupfer bei Temperaturen dicht unterhalb des Schmelzpunktes:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person: Dahlmann, Peter (VerfasserIn)
Format: Hochschulschrift/Dissertation Buch
Sprache:Deutsch
Veröffentlicht: 1988
Schlagwörter:
Umfang:II, 71, ca. 69 S. Ill., zahlr. graph. Darst.
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Signatur: 0001 DA 88 2366
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