Beyerer, J., Hagmanns, R., & Stadler, D. (2024). Pattern recognition: Introduction, features, classifiers and principles (2nd Edition.). De Gruyter Oldenbourg.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Beyerer, Jürgen, Raphael Hagmanns, und Daniel Stadler. Pattern Recognition: Introduction, Features, Classifiers and Principles. 2nd Edition. Berlin ; Boston: De Gruyter Oldenbourg, 2024.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Beyerer, Jürgen, et al. Pattern Recognition: Introduction, Features, Classifiers and Principles. 2nd Edition. De Gruyter Oldenbourg, 2024.
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