Optical metrology for precision engineering:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteiligte Personen: Gao, Wei (VerfasserIn), Shimizu, Yuki (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Berlin ; Boston De Gruyter [2022]
Schlagwörter:
Links:https://www.degruyter.com/books/9783110541090
Umfang:XI, 644 Seiten Illustrationen, Diagramme 24 cm x 17 cm
ISBN:9783110541090