Modern characterization of electromagnetic systems and its associated metrology:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere beteiligte Personen: Sarkar, Tapan (HerausgeberIn), Salazar-Palma, Magdalena (HerausgeberIn), Zhu, Ming Da (HerausgeberIn), Chen, Heng (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Hoboken, NJ IEEE Press Wiley [2021]
Ausgabe:First edition
Schlagwörter:
Beschreibung:Includes bibliographical references and index
Umfang:xxviii, 692 Seiten Illustrationen, Diagramme
ISBN:9781119076469
1119076463