Annealing-Induced Changes in the Nature of Point Defects in Sublimation-Grown Cubic Silicon Carbide:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteiligte Personen: Schöler, Michael (VerfasserIn), Brecht, Clemens (VerfasserIn), Wellmann, Peter J. (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Erlangen ; Nürnberg Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg 2019
Schlagwörter:
Links:https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bvb:29-opus4-134482
https://d-nb.info/1207546380/34
https://open.fau.de/handle/openfau/13448
Umfang:1 Online-Ressource