Nicolaidis, M., Zorian, Y., & Pradan, D. K. (1998). On-Line Testing for VLSI. Springer US. https://doi.org/10.1007/978-1-4757-6069-9
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Nicolaidis, Michael, Yervan Zorian, und Dhiraj K. Pradan. On-Line Testing for VLSI. Boston, MA: Springer US, 1998. https://doi.org/10.1007/978-1-4757-6069-9.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Nicolaidis, Michael, et al. On-Line Testing for VLSI. Springer US, 1998. https://doi.org/10.1007/978-1-4757-6069-9.
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