Srikantharajah, R., Gerstner, K., Romeis, S., & Peukert, W. (2016). Polarized Raman scattering and SEM combined full characterization of self-assembled nematic thin films. Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU).
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Srikantharajah, R., K. Gerstner, S. Romeis, und Wolfgang Peukert. Polarized Raman Scattering and SEM Combined Full Characterization of Self-assembled Nematic Thin Films. Erlangen: Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2016.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Srikantharajah, R., et al. Polarized Raman Scattering and SEM Combined Full Characterization of Self-assembled Nematic Thin Films. Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2016.
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