APA-Zitierstil (7. Ausg.)

Beyerer, J., Richter, M., & Nagel, M. (2018). Pattern recognition: Introduction, features, classifiers and principles. De Gruyter.

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Beyerer, Jürgen, Matthias Richter, und Matthias Nagel. Pattern Recognition: Introduction, Features, Classifiers and Principles. Berlin ; Boston: De Gruyter, 2018.

MLA-Zitierstil (9. Ausg.)

Beyerer, Jürgen, et al. Pattern Recognition: Introduction, Features, Classifiers and Principles. De Gruyter, 2018.