Availability: Signalintegrität | Technische Universität München

Signalintegrität:

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Bibliographic Details
Main Author:	Schmidt, Manfred 1961- (Author)
Format:	Book
Language:	German
Published:	Würzburg Vogel Buchverlag 2013
Edition:	1. Auflage
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adam_text	IMAGE 1 INHALTSVERZEICHNIS VORWORT 5 1 SIGNALINTEGRITAET 11 1.1 HISTORISCHER ABRISS 11 1.2 SIGNALINTEGRITAET AUF CHIP-EBENE 12 1.3 SIGNALINTEGRITAET AUF LEITERPLATTENEBENE 13 1.4 MODELL - SIMULATION - VERIFIKATION DURCH MESSUNG 15 2 OMNSCHE, KAPAZITIVE UND INDUKTIVE EIGENSCHAFTEN GEAETZTER LEITERZUEGE AUF LEITERPLATTEN 17 2.1 OHMSCHE EIGENSCHAFTEN 17 2.1.1 ELEKTRISCHE LEITER UND WIDERSTAENDE 17 2.1.2 SKINEFFEKT UND PROXIMITY-EFFEKT 20 2.2 KAPAZITAET GEAETZTER LEITERZUEGE 27 2.2.1 VERLUSTE IN DIELEKTRIKA 30 2.2.2 LEITERPLATTEN MIT VIELFACHLEITUNGEN UND MASSEFLAECHE, KAPAZITAETSMATRIX 32 2.3 INDUKTIVITAET GEAETZTER LEITERZUEGE ! 34 2.3.1 INNERE, AEUSSERE UND PARTIELLE INDUKTIVITAETEN 35 2.3.2 VERHALTEN VON INDUKTIVITAETEN IN STROMKREISEN 36 2.3.3 INDUKTIVITAET SPEZIELLER LEITERANORDNUNGEN 38 3 UEBERTRAGUNGSLEITUNGEN 41 3.1 HERLEITUNG DER TELEGRAPHENGLEICHUNG 43 3.2 LOESUNG DER TELEGRAPHENGLEICHUNG 47 3.3 BESTIMMUNG DER INTEGRATIONSKONSTANTEN 48 3.4 SPANNUNGS- UND STROMVERLAUF ENTLANG DER LEITUNG 50 3.5 DISKUSSION SPEZIELLER FAELLE 52 3.5.1 WELLEN WIDERSTAND DER VERLUSTLOSEN LEITUNG 52 3.5.2 ANPASSUNG 52 3.5.3 EINGANGSIMPEDANZ EINER LEITUNG BEI BELIEBIGEM ABSCHLUSS 52 3.5.4 VERLUSTFREIE X U -LEITUNG 53 3.5.5 VERLUSTFREIE A/4 -LEITUNG 54 3.5.6 ELEKTRISCH KURZE LEITUNG 54 3.6 REFLEXIONSFAKTOR UND STEHWELLENVERHAELTNIS 55 7 HTTP://D-NB.INFO/1022754947 IMAGE 2 3.7 DARSTELLUNG VON UEBERTRAGUNGSLEITUNGEN IN PSP1CE 56 3.8 TEM- UND QUASI-TEM-WELLENLEITER 59 4 GRUNDLAGEN DER DIGITALEN DATENUEBERTRAGUNG 63 4.1 LOESUNG DER WELLENGLEICHUNG FUER NICHT-HARMONISCHE VORGAENGE 63 4.2 REFLEXION UND BRECHUNG VON PULSEN AN STOSSSTELLEN UND WIDERSTAENDEN 66 4.3 REFLEXION VON SPANNUNGSSPRUENGEN AN RLC-SCHALTUNGEN 72 4.4 MEHRFACHREFLEXIONEN 79 4.5 MODELLIERUNG VON UEBERTRAGUNGSLEITUNGEN 82 4.5.1 KRITISCHE LAENGE 82 4.5.2 KONZENTRIERTES LEITUNGSELEMENT - VERTEILTE ELEMENTE 85 4.6 HILFSMITTEL ZUR VERANSCHAULICHUNG VON MEHRFACHREFLEXIONEN AUF LEITUNGEN 86 4.6.1 DAS REFLEXIONSDIAGRAMM 87 4 . 6 . 2 DAS BERGERON-VERFAHREN 9 4 5 GEKOPPELTE LEITUNGEN 97 5.1 UEBERSPRECHEN (CROSSCOUPLING) ZWISCHEN LEITUNGEN 97 5.2 MODEN AUF SYMMETRISCHEN DOPPELLEITUNGEN 109 5.3 CHARAKTERISTISCHE IMPEDANZMATRIZEN 112 6 NUMERISCHE BERECHNUNG VON LEITUNGSPARAMETERN 115 6.1 WERKZEUGE ZUR ANALYSE UND SYNTHESE VON LEITUNGSEIGENSCHAFTEN 116 6.2 NUMERISCHE BERECHNUNG VON LEITUNGSPARAMETERN DURCH ELEKTROMAGNETISCHE FELDSIMULATION 118 6.2.1 2D-FELDLOESER ZUR BERECHNUNG VON PARAMETERN VON UEBERTRAGUNGSLEITUNGEN 118 6.2.1.1 NUMERISCHE BERECHNUNG DER IMPEDANZEN EINER EINZELNEN STREIFENLEITUNG 118 6.2.1.2 BERECHNUNG GEKOPPELTER STREIFENLEITUNGEN UNTER BERUECKSICHTIGUNG VON SYMMETRIEN 120 6.2.2 3D-FELDLOESER 123 6.2.2.1 ZUR METHODE DER FINITEN INTEGRATION 122 6.2.2.2 FEHLERQUELLEN UND QUELLEN VON UNGENAUIGKEITEN 124 6.2.3 AUSGEWAEHLTE SIMULATIONSBEISPIELE 125 6.2.3.1 MIKROSTREIFENLEITUNG MIT 2 STOERSTELLEN 125 6.2.3.2 SYMMETRISCHE GEKOPPELTE DOPPELLEITUNG 127 7 STRUKTURELEMENTE FUER DAS LAYOUT VON LEITERPLATTEN 133 7.1 DURCHKONTAKTIERUNGEN (VIAS) 133 7.2 BIEGUNGEN UND KNICKSTELLEN IN LEITERZUEGEN 136 7.3 STUFEN IN DER LEITERBAHNBREITE 139 7.4 UEBERGAENGE ZWISCHEN PLANAREN LEITERZUEGEN UND KOAXIALEN STECKVERBINDERN 139 8 IMAGE 3 8 MESSTECHNIK UND SIGNALINTEGRITAET: VERIFIKATION VON MODELLEN UND SIMULATIONSERGEBNISSEN DURCH MESSUNGEN 143 8.1 STREUPARAMETER 144 8.1.1 NODALE STREUPARAMETER 144 8.1.2 MODALE STREUPARAMETER 147 8.2 MESSUNGEN IM FREQUENZBEREICH: VEKTORIELLE NETZWERKANALYSE 149 8.2.1 GRUNDSAETZLICHER AUFBAU VON NETZWERKANALYSATOREN 150 8.2.2 TRANSFORMATION VON MESSERGEBNISSEN IN DEN ZEITBEREICH 154 8.2.3 KALIBRIERUNG UND MESSUNSICHERHEITEN 161 8.2.3.1 FEHLERMODELLE UND KALIBRIERUNG 162 8.2.3.2 MESSUNSICHERHEITEN 168 8.2.4 ERGAENZENDE MESSBEISPIELE 170 8.3 REFLEXIONS-UND TRANSMISSIONS-MESSUNGEN IM ZEITBEREICH 173 8.3.1 ZEITBEREICHSREFLEKTOMETRIE (TDR) 173 8.3.2 TRANSMISSIONSMESSUNGEN IM ZEITBEREICH (TDT) 177 8.4 SOFTWARE-WERKZEUGE FUER TDR-UND TDT-MESSPLAETZE 178 9 SERIELLE HOCHGESCHWINDIGKEITS-DATENUEBERTRAGUNG UND SIGNALINTEGRITAET 183 9.1 EINFLUSS DER LEITUNGSVERLUSTE 186 9.2 AUGENDIAGRAMME 188 9.3 JITTER UND BITFEHLERRATE 192 10 SIGNALINTEGRITAET UND ELEKTROMAGNETISCHE VERTRAEGLICHKEIT 195 10.1 EIGENSCHAFTEN DIGITALER SIGNALE IM FREQUENZBEREICH 195 10.2 ZUR STOEREMISSION VON STRUKTUREN AUF LEITERPLATTEN 197 10.3 EMV-GERECHTE MESSUNG DER STOEREMISSION 199 11 VERALLGEMEINERTE REGELN ZUM SL-GERECHTEN ENTWURF 205 ANHANG 209 VERFAHREN ZUR ERMITTLUNG VON MESSUNSICHERHEITEN 209 A.L ALLGEMEINES 209 A.2 ANSAETZE FUER DIE EINGANGSDATEN 210 A.3 BERECHNUNG DER AUSGANGSDATEN BEI UNKORRELIERTEN, VONEINANDER UNABHAENGIGEN EINGANGSGROESSEN 212 A.4 BERECHNUNG DER AUSGANGSDATEN BEI KORRELIERTEN, VONEINANDER ABHAENGIGEN EINGANGSGROESSEN 213 A.5 TABELLARISCHE UEBERSICHT 214 LITERATURVERZEICHNIS 217 STICHWORTVERZEICHNIS 223 9
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