Verfügbarkeit: Toeplitz-Quantisierung symmetrischer Gebiete auf Grundlage der C*-Dualität

Toeplitz-Quantisierung symmetrischer Gebiete auf Grundlage der C*-Dualität:

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Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person:	Skill, Thomas 1967- (VerfasserIn)
Format:	Hochschulschrift/Dissertation Elektronisch E-Book
Sprache:	Deutsch
Veröffentlicht:	Wiesbaden Vieweg + Teubner 2011
Ausgabe:	1. Aufl.
Schriftenreihe:	Vieweg + Teubner Research Wissenschaft
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ISBN:	9783834815415 9783834881793
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