Untersuchung und Reduzierung des Leckstroms integrierter Schaltungen in Nanometer-Technologien bei konstanten Performanceanforderungen:
Gespeichert in:
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| Format: | Hochschulschrift/Dissertation Buch |
| Sprache: | Deutsch |
| Veröffentlicht: |
München [u.a.]
GRIN-Verl.
2007
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| Ausgabe: | 1. Aufl. |
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| Umfang: | XXVIII, 190 S. graph. Darst. |
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