Fatigue behavior of thin Cu films: film thickness and interface effects
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person: Wang, Dong 1977- (VerfasserIn)
Format: Hochschulschrift/Dissertation Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Karlsruhe Forschungszentrum 2007
Schriftenreihe:Wissenschaftliche Berichte / Forschungszentrum Karlsruhe in der Helmholtz-Gemeinschaft
Schlagwörter:
Umfang:VI, 106 S. Ill., graph. Darst. 30 cm