Hochauflösende Röntgendiffraktometrie zur Charakterisierung von II-VI-Halbleiter-Heterostrukturen:
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Bibliographic Details
Main Author: Möller, Markus O. (Author)
Format: Thesis/Dissertation Microform Book
Language:Undetermined
Published: 1991
Edition:[Mikrofiche-Ausg.]
Subjects:
Physical Description:VII, 151 Bl.