Untersuchung und Reduzierung des Leckstroms integrierter Schaltungen in Nanometer-Technologien bei konstanten Performanceanforderungen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person: Sill Torres, Frank 1977- (VerfasserIn)
Format: Elektronisch Software E-Book
Sprache:Deutsch
Veröffentlicht: 2007
Schlagwörter:
Beschreibung:Rostock, Univ., Diss., 2007
Parallel als Buch-Ausg. erschienen
Umfang:1 CD-ROM 12 cm
Format:Adobe Acrobat Document. - pdf