Untersuchungen zu Inhomogenitäten an der Halbleitergrenzfläche Silizium-Siliziumoxynitrid:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person: Hoffmann, Patrick (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Deutsch
Veröffentlicht: Aachen Shaker 2003
Schriftenreihe:Berichte aus der Physik
Schlagwörter:
Beschreibung:Zugl.: Cottbus, Techn. Univ., Diss., 2003
Umfang:179 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:383221982X