Transporteigenschaften von Elektronen in Siliziumkarbid bei tiefen Temperaturen und im Kanal von Metall-Oxid-Halbleiter-Transistoren:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person: Krieger, Michael 1974- (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:Deutsch
Veröffentlicht: 2005
Schlagwörter:
Links:https://open.fau.de/handle/openfau/152
http://d-nb.info/976148897/34
https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bvb:29-opus-1830
Beschreibung:Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 2005
Umfang:1 Online-Ressource