Hofmann, T. (2004). Far-infrared spectroscopic ellipsometry on AIII BV semiconductor heterostructures.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Hofmann, Tino. Far-infrared Spectroscopic Ellipsometry on AIII BV Semiconductor Heterostructures. 2004.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Hofmann, Tino. Far-infrared Spectroscopic Ellipsometry on AIII BV Semiconductor Heterostructures. 2004.
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