Oberflächenstruktur und Debye-Waller-Faktor reiner Si<111>-Spaltflächen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person: Auer, Peter P. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Nichtbestimmte Sprache
Veröffentlicht: 1978
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