Untersuchung der Bildung von Defekten und der Diffusionskinetik auf III-V-Halbleiteroberflächen mit Hilfe der Hochtemperatur-Rastertunnelmikroskopie:
Gespeichert in:
| Beteilige Person: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | Deutsch |
| Veröffentlicht: |
2003
|
| Schlagwörter: | |
| Beschreibung: | Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 2003. - Auch als: Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 4036 |
| Umfang: | II, 132 S. Ill., graph. Darst. |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV017314051 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20031022 | ||
| 007 | t| | ||
| 008 | 030715s2003 xx ad|| m||| 00||| ger d | ||
| 035 | |a (OCoLC)248801647 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV017314051 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakwb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-703 |a DE-91 | ||
| 100 | 1 | |a Semmler, Ulrich Matthias |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Untersuchung der Bildung von Defekten und der Diffusionskinetik auf III-V-Halbleiteroberflächen mit Hilfe der Hochtemperatur-Rastertunnelmikroskopie |c Ulrich Matthias Semmler |
| 264 | 1 | |c 2003 | |
| 300 | |a II, 132 S. |b Ill., graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 500 | |a Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 2003. - Auch als: Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 4036 | ||
| 650 | 7 | |a Drei-Fünf-Halbleiter |2 swd | |
| 650 | 7 | |a Gitterleerstelle |2 swd | |
| 650 | 7 | |a Halbleiteroberfläche |2 swd | |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 943 | 1 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-010437710 | |
Datensatz im Suchindex
| DE-BY-TUM_call_number | 0001 DB 2003 120 |
|---|---|
| DE-BY-TUM_katkey | 1431395 |
| DE-BY-TUM_location | Mag |
| DE-BY-TUM_media_number | 040005503346 |
| _version_ | 1821932362635673600 |
| any_adam_object | |
| author | Semmler, Ulrich Matthias |
| author_facet | Semmler, Ulrich Matthias |
| author_role | aut |
| author_sort | Semmler, Ulrich Matthias |
| author_variant | u m s um ums |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV017314051 |
| ctrlnum | (OCoLC)248801647 (DE-599)BVBBV017314051 |
| format | Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01086nam a2200301 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV017314051</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20031022 </controlfield><controlfield tag="007">t|</controlfield><controlfield tag="008">030715s2003 xx ad|| m||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)248801647</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV017314051</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-703</subfield><subfield code="a">DE-91</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Semmler, Ulrich Matthias</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Untersuchung der Bildung von Defekten und der Diffusionskinetik auf III-V-Halbleiteroberflächen mit Hilfe der Hochtemperatur-Rastertunnelmikroskopie</subfield><subfield code="c">Ulrich Matthias Semmler</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">2003</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">II, 132 S.</subfield><subfield code="b">Ill., graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 2003. - Auch als: Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 4036</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="7"><subfield code="a">Drei-Fünf-Halbleiter</subfield><subfield code="2">swd</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="7"><subfield code="a">Gitterleerstelle</subfield><subfield code="2">swd</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="7"><subfield code="a">Halbleiteroberfläche</subfield><subfield code="2">swd</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="943" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-010437710</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV017314051 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-12-20T11:17:41Z |
| institution | BVB |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-010437710 |
| oclc_num | 248801647 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-703 DE-91 DE-BY-TUM |
| owner_facet | DE-703 DE-91 DE-BY-TUM |
| physical | II, 132 S. Ill., graph. Darst. |
| publishDate | 2003 |
| publishDateSearch | 2003 |
| publishDateSort | 2003 |
| record_format | marc |
| spellingShingle | Semmler, Ulrich Matthias Untersuchung der Bildung von Defekten und der Diffusionskinetik auf III-V-Halbleiteroberflächen mit Hilfe der Hochtemperatur-Rastertunnelmikroskopie Drei-Fünf-Halbleiter swd Gitterleerstelle swd Halbleiteroberfläche swd |
| subject_GND | (DE-588)4113937-9 |
| title | Untersuchung der Bildung von Defekten und der Diffusionskinetik auf III-V-Halbleiteroberflächen mit Hilfe der Hochtemperatur-Rastertunnelmikroskopie |
| title_auth | Untersuchung der Bildung von Defekten und der Diffusionskinetik auf III-V-Halbleiteroberflächen mit Hilfe der Hochtemperatur-Rastertunnelmikroskopie |
| title_exact_search | Untersuchung der Bildung von Defekten und der Diffusionskinetik auf III-V-Halbleiteroberflächen mit Hilfe der Hochtemperatur-Rastertunnelmikroskopie |
| title_full | Untersuchung der Bildung von Defekten und der Diffusionskinetik auf III-V-Halbleiteroberflächen mit Hilfe der Hochtemperatur-Rastertunnelmikroskopie Ulrich Matthias Semmler |
| title_fullStr | Untersuchung der Bildung von Defekten und der Diffusionskinetik auf III-V-Halbleiteroberflächen mit Hilfe der Hochtemperatur-Rastertunnelmikroskopie Ulrich Matthias Semmler |
| title_full_unstemmed | Untersuchung der Bildung von Defekten und der Diffusionskinetik auf III-V-Halbleiteroberflächen mit Hilfe der Hochtemperatur-Rastertunnelmikroskopie Ulrich Matthias Semmler |
| title_short | Untersuchung der Bildung von Defekten und der Diffusionskinetik auf III-V-Halbleiteroberflächen mit Hilfe der Hochtemperatur-Rastertunnelmikroskopie |
| title_sort | untersuchung der bildung von defekten und der diffusionskinetik auf iii v halbleiteroberflachen mit hilfe der hochtemperatur rastertunnelmikroskopie |
| topic | Drei-Fünf-Halbleiter swd Gitterleerstelle swd Halbleiteroberfläche swd |
| topic_facet | Drei-Fünf-Halbleiter Gitterleerstelle Halbleiteroberfläche Hochschulschrift |
| work_keys_str_mv | AT semmlerulrichmatthias untersuchungderbildungvondefektenundderdiffusionskinetikaufiiivhalbleiteroberflachenmithilfederhochtemperaturrastertunnelmikroskopie |
Paper/Kapitel scannen lassen
Bibliotheksmagazin
| Signatur: |
0001 DB 2003 120 Lageplan |
|---|---|
| Exemplar 1 | Ausleihbar Am Standort |